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新加坡国立大学重磅Nature:hBN忆阻开关直接集成于GaN毫米波芯片,实现可重构射频前端

信息来源:本站 | 发布日期: 2026-07-13 08:31:59 | 浏览量:12030

摘要:

研究背景第六代移动通信(6G)预计将推动全息远程呈现、自动驾驶生态等新兴应用落地,要求核心网络将时延从当前的1 ms降至10–100 μs,并支持高达1 Tbps的数据传输速率,这将迫使无线网络向毫米波频段扩展。作为高度可重构射频系统中用于导通或阻断高频信号的基础元件,…

研究背景

第六代移动通信(6G)预计将推动全息远程呈现、自动驾驶生态等新兴应用落地,要求核心网络将时延从当前的1 ms降至10–100 μs,并支持高达1 Tbps的数据传输速率,这将迫使无线网络向毫米波频段扩展。作为高度可重构射频系统中用于导通或阻断高频信号的基础元件,射频开关的用量随通信代际快速增长(约提升两个数量级),其插入损耗、隔离度、带宽、功率承受能力和集成难易度直接决定射频前端的性能上限。

单片微波集成电路(MMIC)是支撑5G及未来通信标准的核心技术,但在其平台上集成高频开关面临面积与成本的双重瓶颈。忆阻式射频开关凭借工艺简单、器件级电学性能优异而备受关注:相变材料(PCM)开关需加热器驱动且在125 °C以上存在结晶失效问题;金属—绝缘体转变开关需持续直流偏置维持低阻态;而基于六方氮化硼(hBN)等二维层状材料的导电桥忆阻器虽已展现出优异的宽带性能,却从未在MMIC电路层面获得真正实现。

成果简介

新加坡国立大学Mario Lanza副教授、Sebastian Pazos研究科学家(共同通讯作者)团队在Nature上发表最新成果,首次在氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN-HEMT)MMIC平台的后道工艺(BEOL)上直接集成了Au/hBN/Au忆阻式射频开关,实现了可编程毫米波GaN微芯片。

该后道集成宽带开关工作频率高达100 GHz,插入损耗低至0.3 dB(中位值1 dB),隔离度优于15 dB;器件展现出超过2周的长期状态保持能力,并可在175 °C高温下维持稳定导通电阻,在最高18 dBm的测试功率下线性度保持在0.28 dB以内,外推1 dB压缩点均值达30.52 dBm。团队利用芯片前道的GaN晶体管构建一晶体管一忆阻器(1T1M)驱动单元,将开关循环耐久性提升至3250次,刷新了二维材料基忆阻式射频开关的纪录。在此基础上,研究团队进一步在GaN MMIC平台上演示了忆阻可配置衰减器、可重构Wilkinson功分器和可编程谐振器,为面向5G/6G的低功耗、非易失、可重构射频前端提供了全新技术路线。

图注说明

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图1 通过后道集成hBN开关实现可配置MMIC。(a) 各代无线收发机在业务数量、数据速率与频段上的演进,射频开关用量随之增长约两个数量级;(b) 出厂态10.4 mm × 7.2 mm GaN MMIC裸片光学照片;(c) 在后道顶部制备Au/hBN/Au忆阻式射频开关后的GaN MMIC裸片;(d) 集成hBN开关的GaN MMIC芯片截面结构示意图;(e) 集成于两个MMIC焊盘之间的Au/hBN/Au射频开关光学显微照片。

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图2 多层CVD hBN的物理表征及其对器件性能与开关机制的影响。(a) GaN MMIC后道上原始态Au/hBN/Au开关的电容统计;(b) 室温与175 °C下形成过程的特征I–V曲线,插图为原始态fA量级漏电流;(c) 串联开关的单极性开关I–V曲线(104次set与104次reset);(d, e) 电应力前后器件的截面透射电镜图像,显示Au迁移形成贯穿hBN的导电细丝;(f, g) 形成电压随扫描速率与温度的统计分布;(h, i) 扫描热显微镜测得的导电细丝焦耳热信号,热点半径约100 nm。

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图3 前道驱动器与hBN忆阻器在GaN-HEMT MMIC上的集成。(a) 串联Au/hBN/Au开关经扼流电感与前道HEMT驱动器件相连构成1T1M单元;(b) 1T1M单元100次脉冲I–V开关循环曲线;(c) 同一单元连续脉冲循环中高阻态与低阻态电阻演变,总耐久性超过3250次;(d) 开关电压与电流统计;(e) 器件形成后经1周、2周存储及175 °C、24小时烘烤后的低阻态电阻保持特性(中位值13–15 Ω);(f–h) set与reset过程的瞬态波形及不同脉宽下的开关电压统计,开关时间介于20 ns至5 μs之间。

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图4 后道hBN忆阻器的射频与毫米波性能及应用。(a, b) 串联、并联与串并联构型开关在导通与关断状态下最高110 GHz的传输与隔离特性,并与商用CMOS SOI及PCM开关对比;(c) 49 GHz中频处插入损耗与隔离度统计;(d, e) 100次开关循环后及15小时后的S参数保持特性,验证射频域非易失性;(f, g) 通过脉冲调控实现电阻连续可调,构成非易失可配置衰减器,衰减范围达14.25 dB;(h, i) 串联与并联开关在4 GHz下的功率承受特性,线性工作至18 dBm。

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图5 集成片上hBN忆阻器的可配置MMIC。(a) 在输出端口P2集成串联开关前后的Wilkinson功分器光学照片;(b, c) 功分器在开关不同状态下最高100 GHz的传输与匹配特性,导通态附加插入损耗最低仅0.2 dB,目标频带内匹配优于−20 dB;(d) 集成串联hBN开关前后的可切换并联耦合谐振器(SPCR)光学照片;(e, f) 通过切换忆阻器状态实现6 GHz的中心频率调谐,且各状态下均保持良好阻抗匹配。

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